半導體檢測

矽在短波紅外波段是透明的,波長 (cháng)為1050nm的紅外光可 (kě)以 (y高清成全ǐ)穿透200μm厚的矽錠,而 (ér)波長 (cháng)為1300~1500nm的紅外光可 影院中文版(kě)以 (yǐ)穿透任意厚度的矽。短波紅外相機可 (kě)以 (yǐ)應用于矽錠探傷藝術丁香花、矽片探傷。随著 (zhe)矽錠切割工藝的優化升級,矽片將 (jiāng)越來越薄,其對于TV飄雪内部探傷的需求也 (yě)將 (jiāng)更為迫切。利用短波紅外相機GO中文版對太陽能 (néng)矽錠進 (jìn)行排查,可 (kě)以 (yǐ)檢測出矽錠中的孔洞成全GO和雜質,提升矽類産品質。



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